材料成分分析

检测依据标准：GB/T 18043-2013《首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》

测量方法：

使用X－Ray荧光光谱仪测量覆盖层的厚度，是利用X－Ray轰击覆盖层，然后接收器接受到覆盖层中元素的特征X谱线，根据接受到谱线能量的大小，再与系统中预先设定的同元素能量大小及对应的厚度值进行比较，计算出各个覆盖层的厚度。

检测周期：3个工作日。

成分分析报告样版：